逆转金刚石微腔中退火引起的光学损耗

基于自旋量子比特的量子光子技术面临的一个关键挑战是在光子谐振器中创建光学活性缺陷。量子应用中最有前景的几种缺陷都存在于金刚石中,通常通过离子注入以及在高温高真空条件下的退火过程来创建。然而,退火对光子谐振器品质因数(这一关键参数决定了其与缺陷的耦合效率)的影响尚未有报道。该工作研究了在>1200°C高温高真空条件下退火对金刚石微盘谐振器品质因数的影响。该团队研究了退火过程中形成的非金刚石层相关的光学损耗,并使用拉曼光谱分析了谐振器表面形态,证明了三酸清洗可以恢复其光学品质因数。这些结果表明,在预制金刚石谐振器中创建缺陷而不降低其光学性能是可行的。
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提交arXiv: 2025-10-04 00:26

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