分数量子陈绝缘体的手性边缘激发
边缘激发是手性拓扑有序系统的决定性特征。在连续介质分数量子霍尔态(FQH)中,这些激发由手性Luttinger液体(χLL)理论描述。然而,这种有效描述是否适用于离散晶格上的分数量子陈绝缘体(FCIs),长期以来一直悬而未决。本研究通过数值模拟证明:在宽度为Ly=10的无限长条形结构上,ν=1/2 FCI的单电荷边缘谱函数定量符合χLL理论的预测。该边缘谱呈现无能隙、手性且线性的特征,其谱权重随动量和能量线性增长。研究团队进一步分析了晶格尺寸、粒子数、约束势以及激发电荷区间对边缘特性的影响。该工作明确了晶格FCI与连续介质FQH系统之间的对应关系,并为未来手性边缘模式的实验探测提供了指导。