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金刚石中带负电荷的氮空位中心的基态电子自旋可用于室温下展示相干量子比特功能的实验。在室温条件下，基于光致发光的量子比特读取虽然单次测量保真度较低，但通过多次测量可推断出量子比特两个基态的概率分布。该研究团队计算了多轮次推断方法的误差与读取过程各参数的依赖关系，发现多轮次读取误差按Δ/√N的比例缩放（N为测量次数），因此建议将系数Δ作为衡量多轮次读取误差的简易基准。该计算综合考虑了背景光子、光子损耗和初始化误差等因素，所建模型能够识别读取误差的构成要素，亦即各类缺陷对读取误差的具体影响。这些研究成果有助于实验人员和工程师集中优化能最大限度提升多轮次读取性能的关键硬件环节。