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纠缠检测是量子信息科学中的一项基础性任务，在量子基准测试和基础研究中具有关键作用。随着可控量子比特数量的持续增加，业界迫切需要开发可扩展且稳健的纠缠检测方案——这些方案需要在保持高检测能力的同时，仅消耗最少的资源。该研究团队将正定部分转置判据与变分量子干涉技术相结合，开发出一种仅需适度经典与量子计算资源的纠缠检测方案。数值模拟表明，该方案仅需浅层量子电路即可实现高检测能力，其表现优于多种广泛使用的纠缠检测方法。该方案还对电路噪声表现出极强的耐受性，确保了在不同物理平台上的适用性。在线性光学平台上的实验成功识别出三量子比特混态中的纠缠现象，而这种纠缠态无法被传统纠缠见证方法检测到。该工作充分发挥了量子与经典资源的协同潜力，为高效纠缠检测开辟了新路径。