非线性耦合超导电路中的读出诱导泄漏

在超导电路中,驱动引起的非期望跃迁限制了读取功率,进而制约了读取速度和保真度。当此类跃迁将量子比特激发至泄漏态时,会产生对量子纠错尤其有害的相关误差。本征非线性量子比特-读取谐振器耦合是传统线性混合的一种有前景的替代方案,因为它提供了内在的珀塞尔保护,并对多光子过程具有更严格的选择规则。然而,该团队的研究表明,在实际器件中,仅凭这种耦合既不能消除也不能必然抑制驱动引起的跃迁。相反,如果设计不当,这些耦合往往通过引入额外的寄生过程而使情况恶化。此外,无论耦合机制如何,这些非期望跃迁的速率仍然对读取频率的选择敏感。该团队证明,即使读取频率相差不到约7%,读取引起的泄漏也可能因此变化数个数量级。该工作的研究结果确立了本征非线性耦合的优势只有通过明智的器件设计才能实现,包括相关辅助模式的频谱布局以及寄生模式的消除。
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提交arXiv: 2026-06-14 23:06

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