韩国科学技术院提出一种探测灵敏度更高的半导体隐性缺陷分析方法

半导体是存储芯片和太阳能电池等关键器件的核心材料,其内部往往存在难以直接观测的缺陷,这些缺陷会干扰电流传输并限制器件性能。韩国科学技术院(KAIST)的一支研究团队提出了一种全新…
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