日本研究人员找到导致硅量子比特设备出现长期电不稳定性的原因
日本国家先进工业科学技术研究所(AIST)的研究人员与东京电机大学合作,首次确定了硅基量子比特设备中存在的长期电不稳定性问题的原因。在这项研究中,该团队确定了氧化物/半导体界面处…
量科快讯
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