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利用擦除量子比特进行量子纠错，通过将主要物理误差转化为可检测的擦除操作，能提供更高的容错阈值和更优的扩展性。在超导电路中，可采用双轨方案构建擦除量子比特，但这种方法需要额外的量子比特数量开销和定制耦合元件。本研究展示了一种硬件高效方案——将transmon三能级系统作为擦除量子比特运行，该方案与标准超导电路量子电动力学硬件兼容。其中逻辑态|0_L⟩和|1_L⟩分别由基态和第二激发态表示，而主导的弛豫误差可通过微波激活的双三能级系统SWAP门，借助辅助量子比特进行检测。经重复的中途擦除检测后筛选，该逻辑量子比特的T1寿命超过500微秒，是transmon物理量子比特T1时间的十倍。通过动态解耦技术，相干时间突破300微秒。单量子比特门操作实现了平均Clifford门保真度达10^-4量级。研究还展示了将辅助量子比特双重用途化——同时用于擦除检测和奇偶校验，并实现了擦除量子比特间贝尔态的预示制备。这些结果表明，当前主流的transmon量子比特阵列架构可能已具备实施基于擦除的量子纠错策略的潜力，为硬件高效的容错量子计算铺平道路。