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该研究团队报告了基于艾伦方差分析对纵向相位测量中弱值放大(WVA)技术的定量评估。通过改进近期采用真实弱值的双缝干涉实验[Phys. Rev. Lett. 134, 080802 (2025)]，艾伦方差分析表明：在0.01-0.1秒的短平均间隔内，可实现接近散粒噪声极限的几阿秒级时间延迟测量，与先前实施方案中300秒工作点相比，方差降低达两个数量级。实验证实艾伦方差噪声基底与探测光子数的倒数(1/Nr)呈比例关系，验证了WVA工作在散粒噪声极限下的特性。此外，1/Nr比例关系实验验证了理论预测[Phys. Rev. Lett. 118, 070802 (2017)]：在固定探测光子数和探测器饱和条件下，即使存在技术噪声，WVA仍可超越传统测量方法。该工作为WVA接近最优噪声性能提供了严谨的定量证据，为精密光学计量设立了新基准。这一进展对引力波探测等高频信号(>10Hz)主导的应用领域具有特殊意义。