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准粒子隧穿效应是超导电路中退相干和相关误差的根源之一。为理解和最终抑制此类误差，需对单个器件上的准粒子隧穿事件进行实时探测。该研究团队在耦合于同一波导的两个共置电荷敏感transmon中，实现了准粒子隧穿事件的双器件同步探测。实验测得本底准粒子隧穿率处于单赫兹量级，时间分辨率达数十微秒。通过时间标记符合分析，研究人员发现单个事件在器件间无关联性，但约每分钟发生一次的突发簇事件则呈现显著相关性。这些突发簇具有7毫秒的特征寿命，会使两个器件的准粒子隧穿率骤增千倍。此外，团队还发现一种更罕见的突发簇亚类（每小时约发生一次），其伴随有偏移电荷的变化。该工作建立了可扩展的实用方法来识别超导电路中的准粒子突发簇及其关联性与空间结构，为抑制超导量子处理器中的相关误差提供了新路径。