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大规模量子门基准测试（通常涉及多个原生双量子比特门和单量子比特门）是量子计算领域的关键环节。与仅评估局部原生门保真度不同，全局保真度能反映门间关联信息，为量子门性能评估与优化提供更全面的指标。该工作采用可在浅层电路中实现的字符平均基准测试协议，成功完成52个量子比特规模的量子门保真度测试，其中44量子比特并行CZ门实现63.09±0.23%的保真度。通过建立门间关联度量指标，研究人员利用并行CZ门的全局保真度揭示了局部CZ门间的相关性，实现门保真度测试与串扰误差的同步量化。最终在门优化应用中，基于全局保真度的优化方法使6量子比特并行CZ门保真度从87.65%提升至92.04%，同时将门关联度从3.53%降至3.22%，较传统基于局部门保真度的优化效果显著提升。实验结果与团队构建的复合噪声模型（包含退极化和ZZ耦合噪声）高度吻合，为相关噪声的深入研究与抑制提供了重要依据。