量子科技中心_量科网

信息完全性（IC）测量是一类有用的测量，因为其测量结果的统计特性能够唯一确定一个未知的量子态。因此，它们在量子态层析、量子过程层析等特定任务中具有重要意义。本工作通过引入并刻画一种忠实的度量，研究任意量子测量信息完全性的量化问题。该团队明确评估了量子比特对称信息完全性（SIC）测量的信息完全性，并证明它是所有量子比特最小信息完全性测量的上界。此外，通过引入忠实度量，该工作尝试量化并刻画在Heisenberg图像下，任意量子通道作用于信息完全性测量时，该通道保持其信息完全性的能力。研究人员将这一度量称为量子通道的信息完全性保持能力（IC可保持性）。在研究了其性质后，该工作最终建立了该度量与另一量——即量子通道的绝对输出相干性——之间的关系，后者量化了从该通道输出中总能获得的最小相干性（相对于任意非相干基）。因此，本工作不仅尝试为研究量子测量的信息完全性以及量子通道保持该特性的能力提供一个量化框架，还试图为信息完全性与量子相干性之间的概念关系提供关键见解。