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医疗物联网标志着向去中心化医疗的转变，通过可穿戴和植入式设备实现持续监测和个性化护理。然而，确保这些设备本身的信任和完整性仍是一项重大挑战，因为物理篡改或伪造可能直接危及患者安全、隐私和数据完整性。该工作提出了一种基于栅极隧穿泄漏的物理不可克隆函数QT-PUF，该函数利用标准CMOS器件中工艺偏差引起的量子力学栅极泄漏。研究人员设计了一种带有伪电阻I-V前端的差分读出电路，将皮安级的泄漏变化转换为数字响应。与现有的基于存储器、环形振荡器或仲裁器的PUF不同（这些PUF因额外电路、功耗开销或稳定性差而不太适合超低功耗医疗物联网设备），QT-PUF无需外部激励或稳定化处理，并在静态偏置下运行。基于65纳米CMOS工艺的仿真测量表明，该PUF在1.2V和35∘C条件下，熵值为0.9999998，片间汉明距离为0.5001，平均功耗为96.04纳瓦/比特，平均能量为19.21飞焦/比特。该PUF在0.9--1.3V和0--100∘C范围内可靠运行，在典型植入式设备工作条件（1.0--1.3V和10--70∘C）下，平均误码率低于0.000163。