基于对称测量的施密特数判据说明

施密特数是量子纠缠的一种重要表征方式。具有较高施密特数的量子态在各种量子信息处理任务中展现出显著优势。通过基于对称测量导出一类k-正线性映射,该研究团队提出了一类新的(k+1)阶施密特数判据。通过具体实例表明,该工作提出的施密特数判据能更准确识别高维系统中量子态的施密特数。此外,研究人员指出费多罗夫比——该比值与纯高斯态的施密特数一致,并在自发参量下转换等非高斯情形下提供近似估计——可作为验证所提(k+1)阶施密特数判据的实验可行工具。
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提交arXiv: 2025-11-17 02:21

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