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当前大多数量子信息处理方案都需要具备量子比特分辨的操作与测量能力。然而由于需要局部寻址，这些操作在实验上成本高昂，并需要大量经典控制资源。相比之下，均匀测量作为一种更节约资源的替代方案，只需在执行计算基测量前对量子比特进行与位点无关的统一旋转操作。该技术可在原子和离子平台上并行或全局执行，从而降低资源开销并提高保真度。该研究团队首次系统探索了该操作在量子信息处理中的应用价值，特别论证了均匀测量技术可用于认证特定图形态——这类高度纠缠态具有广泛的应用价值。研究人员提出了一种具有理论性能保证的样本高效认证算法，并设计了基于里德堡原子阵列模拟模式的实验方案。研究表明，均匀测量技术能以以往未被探索的方式，直接在量子平台上实现高效量子态表征。