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长期以来，瑞利判据一直是经典光学成像分辨率的基本限制。然而，量子计量学的最新进展催生了量子超分辨技术，该技术能突破瑞利极限，以非零精度估计非相干点光源对的间距。对于二维光学系统，两点源间整体间距（即距离）的精度极限至今仍属未知。本研究通过多参数量子估计理论，在二维成像系统中探究了任意强度非相干点光源间距离的估计精度，获得了距离的终极估计精度，并证明当距离趋近零时该精度仍保持非零值，从而突破了瑞利判据。研究进一步表明：若两点源的点扩散函数不具备圆对称性，沿特定方向排列点源可提升精度，同时确定了点源间最优相对方位角及距离的最高估计精度。除距离估计外，研究还考察了两非相干点源间相对方位角的量子估计。一个惊人发现是：方位角精度极限随距离呈二次方衰减，这意味着当两点源足够接近时，方位角将无法解析，此时量子超分辨技术亦无能为力。这揭示了多维量子成像中非相干点源可分辨性的新基础限制——该限制无法通过优化量子测量来克服。