通过广义测量降低阴影过程层析成像的复杂性
量子过程层析成像(QPT)对推进量子计算机、量子网络及量子传感器等量子技术发展至关重要。基于阴影估计的过程层析(SPT)利用Choi同构将QPT转化为阴影态层析(SST),显著降低了从量子过程提取信息所需的样本复杂度。然而,SPT依赖随机酉算子,且难以确定能最小化阴影范数(影响样本复杂度的关键因素)的最优酉算子。该工作提出一种广义SPT框架,通过用广义测量(POVM)替代酉算子来最小化阴影范数。这种称为“基于POVM的阴影过程层析”(POVM-SPT)的方法,利用凸优化识别最优POVM以最小化阴影范数,从而进一步降低样本复杂度。研究团队通过数值模拟验证了最优POVM的识别,并提供相应优化算法。数值实验表明:相较传统SPT,POVM-SPT实现阴影范数大幅降低——单量子比特输入状态提升约7倍,64量子比特输入状态更获得惊人的2^180倍优化。这些结果证明POVM-SPT在简化SPT任务(尤其大规模量子系统)方面具有显著优势。
