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该研究团队引入CP距离作为衡量埃尔米特映射与完全正性偏离程度的指标，并推导了其关键性质与边界条件。研究人员聚焦该度量在矩阵代数间正定埃尔米特线性映射结构分析中的作用，特别阐释了其对量子信息理论的潜在影响——包括为纠缠见证检测强度建立边界条件。该工作通过阐明CP距离与正映射结构特性间的相互作用，揭示了其对映射分解机制的影响规律，同时深入分析了CP距离如何调控正定埃尔米特映射的分解过程，从而阐明其对完全正性成分平衡关系的调控机制。