Bluefors与JPE联手研发极低温探针系统,量子芯片测试效率有望提升十倍

Bluefors与JPE正在开展联合研发项目,以共同开发可在100毫开尔文以下运行的新型低温探针系统。该系统支持对最大150毫米晶圆上的完整量子芯片或大量芯片裸片进行测试。项目结…
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