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日本东京科学研究所工程学院的一个研究团队近日与哈佛大学及日立公司合作，在《通讯-材料》期刊上发表了一项新成果，他们开发出一种通过同步成像交流杂散场的幅度和相位来分析无源元件能量损耗的新方法。该技术利用了基于氮空位（NV）色心的金刚石量子传感器，并结合了他们开发的用于千赫兹量子比特频率追踪（Qurack）和兆赫频段的兹量子异频（Qdyne）两种成像协议，首次实现了宽频段交流磁场成像。