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日本东北大学材料科学高等研究所（WPI-AIMR）的一个研究团队开发出一种基于贝叶斯推断的新型快速测定技术，可准确识别半导体量子点中电子的电荷态。他们的研究结果表明，这种方法在测量噪声随着电荷状态而变化的情况下，要显著优于传统的阈值检测法。相关成果已于最近发表在《Physical Review Applied》期刊上。