科学家开发的新型贝叶斯方法可显著提升量子点电荷态的检测速度与精度
日本东北大学材料科学高等研究所(WPI-AIMR)的一个研究团队开发出一种基于贝叶斯推断的新型快速测定技术,可准确识别半导体量子点中电子的电荷态。他们的研究结果表明,这种方法在测量噪声随着电荷状态而变化的情况下,要显著优于传统的阈值检测法。相关成果已于最近发表在《Physical Review Applied》期刊上。
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