大阪大学揭示了二氧化硅与碳化硅之间界面处极亮色心的起源

由大阪大学领导的一个多机构研究团队最近成功揭示了二氧化硅与碳化硅之间界面处极亮色心的来源。这些特殊的色心是通过氧化碳化硅基底而形成的,其能级由能捕获电子的缺陷(即电子陷阱)所决定…
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