JILA研发的新型显微镜可对金刚石等超宽带隙半导体实现纳米级特性观测

JILA的研究人员近日开发出一种新型显微镜,它可以以前所未有的规模检查超宽带隙半导体(如金刚石)材料。这种显微镜利用了深紫外激光技术,能在纳米尺度上观测材料的电子、热和机械特性。…
量科网普通用户

成为注册用户以继续阅读此内容
并享受超多专享功能

注册用户可查看完整快讯内容
搜索全站35000+条内容
还能查看内容相关的额外信息

量科快讯