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最近，由纽约大学坦登工程学院和韩国科学技术院（KAIST）领导的一组国际研究团队开创了一种可用于识别和表征六方氮化硼（hBN）中的原子级缺陷的新方法。这种技术是通过聆听经专门设计的晶体管中的电子“噪音”而实现的，能检测六方氮化硼晶体中是否存在取代硼原子的单个碳原子。这一进步有望加速下一代电子和量子技术的发展，相关研究成果已发表在近期的《ACS Nano》期刊上。