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由美国能源部劳伦斯伯克利国家实验室的研究人员领导的一个项目最近构建出了斯格明子的三维X射线图像，该图像可以表征或测量整个物体内部自旋的方向。在这项研究中，他们利用了X射线断层扫描技术，并基于获得的大量图像和数据重建出了斯格明子的自旋结构。这一成就为自旋电子器件的纳米级计量奠定了基础，相关工作已发表在近期的《科学进展》上。