新技术使超快监测光记忆材料的晶体变化成为了可能
在最近的一项研究中,由东京大学领导的一个国际合作研究小组成功开发了一种被称为采样流超快时间分辨X射线衍射的新测量方法,该方法允许使用超快X射线衍射来监测由光照引发的晶体结构变化。这种技术使得测量光记忆材料的相变过程成为了可能,有望推进对不可逆现象(例如光写入和光擦除)的时间动力学方面的研究。
量科快讯
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