NIST通过将量子点与光子元件对齐,使光学显微镜的精度提升至纳米级
美国国家标准与技术研究院(NIST)的研究人员与其合作者成功开发了一种针对光学显微镜的标准和校准方法,他们通过使量子点与光子元件的中心对齐,实现了将显微镜的误差控制在10至20纳米范围内。这种对准对于依赖量子点发射的辐射来进行量子信息存储与传输的芯片级设备至关重要,有望让这些设备的性能和可靠性得到大大提升。
量科快讯
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