本源量子研制出用于增强量子芯片性能的激光退火仪

本源量子近日已成功研制出国内首个专用于量子芯片生产的激光退火仪“MLLAS—100”,该仪器可解决量子芯片比特数增加时的工艺不稳定因素,能增强量子芯片在向多比特扩展时的性能,从而…
量科网普通用户

成为注册用户以继续阅读此内容
并享受超多专享功能

注册用户可查看完整快讯内容
搜索全站35000+条内容
还能查看内容相关的额外信息

量科快讯