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微软公司最近在arXiv上发表了一项新研究成果，展示了一种四分量（tetron）拓扑量子比特装置。该装置能够执行X和Z两种不同的量子测量，且二者的寿命差异显著。他们实验测得，X回路和Z回路的宇称切换时间分别为14.5微秒和12.4毫秒，并发现这种差异与器件内部的动态过程及外部准粒子中毒现象有关。团队表示，尽管这一结果与马约拉纳相关特性一致，但在某些非拓扑系统中也可能出现类似现象。