伊利诺伊大学物理学家开发出一种基于光学干涉的纳米级精密测量技术

伊利诺伊大学的一个物理学家团队开发出一种革命性的测量工具,它能在样本存在背景噪声和光学损耗的情况下进行纳米级的精密测量。这是一种新型光学干涉测量技术,它利用光的量子特性来实现比广泛使用的经典和量子技术更快速、更精确的测量。相关研究成果已发表在近期的《科学进展》期刊上。

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