科学家首次实现利用太赫兹SNOM显微镜来检查量子计算电路中的缺陷
来自美国能源部埃姆斯国家实验室和超导量子材料与系统中心(SQMS)的科学家已成功地利用太赫兹扫描近场光学显微镜(SNOM)来检查量子计算机约瑟夫森结电路中的缺陷。这是一项令人兴奋的突破,这一进步可能会为开发出更高效的量子计算机铺平道路。
量科快讯
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