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利用金刚石中氮空位（NV）中心的全光学（AO）无微波磁力计简化了实验设计并拓宽了样品兼容性。虽然通常采用连续波（cw）检测AO光致发光（PL）变化，但其性能易受系统波动（如光学强度噪声）影响。为解决这些挑战，该团队引入了一种脉冲AO协议，通过在一个光脉冲内进行两次PL测量来抑制共模噪声。在近零磁场下，该工作通过实验证明，脉冲AO协议能够解析出由NV-NV交叉弛豫引起的AO-PL对比度特征，与传统cw AO技术相比，在低频噪声基底上实现了高达10倍的改进。该研究进一步探讨了AO-PL对比度对PL读出时序以及光脉冲间暗时间τ（τ）的依赖性，且最优τ随NV浓度变化。这些发现为优化NV金刚石样品以在多样化应用中实现有效AO操作提供了见解。