离子阱电极表面产生的电场噪声降低了量子计算操作的保真度。尽管经过数十年的研究，其微观起源仍不清楚。本研究测量了线性表面保罗阱对称轴上俘获位置处的电场噪声。研究人员发现，在阱内一段600微米的区域中，噪声水平变化达三个数量级。光学和扫描电子显微镜图像显示，在噪声水平最高的俘获位置附近存在微米级颗粒。该团队发现，将这些颗粒建模为具有有效损耗角正切 \(\tan\theta=0.33(0.06)\) 的有损电介质，可以描述噪声的幅度及其空间和频率依赖性。该研究的观测结果可能解释了文献中报道的噪声水平存在巨大差异的原因。
