单层CrC₂N₄中稳健的自旋分裂与应变调控光学响应及其在谷电子学和光电子学中的应用
单层CrC2N4近期作为一种有前景的二维半导体材料出现,但其自旋-轨道耦合物理特性及应变可调光学响应仍未得到充分探索。本研究利用第一性原理计算,系统研究了无应变及双轴应变下单层CrC2N4的电子、谷、电荷转移及光学性质。该单层材料在K/K'谷处呈现直接带隙。自旋-轨道耦合产生了谷对比的面外自旋极化,导致价带自旋分裂为51.9 meV(中等强度),而导带自旋分裂仅为1.7 meV。轨道分辨分析表明,边缘态主要由Cr-d与N-p杂化主导;Bader分析则显示,通过向N原子转移电荷形成了极性共价键。在-4%至+4%的双轴应变范围内,带隙从1.987 eV调谐至1.421 eV,并在约-1%应变处发生间接-直接带隙转变。拉伸应变增强了贝里曲率,并将光学响应红移至可见-近红外区域。这些结果表明,单层CrC2N4是用于应变工程谷电子学及光电器件应用的有前景平台。
量科快讯
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