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超导量子比特通常采用色散读取方式进行测量，理想情况下，这种测量实现的是投影式量子非破坏（QND）测量。虽然增大读取驱动信号可以增强信号强度，从而减少读取中的判别误差，但强微波驱动也可能导致量子比特跃迁至计算子空间之外的状态，从而引发非QND误差。在本工作中，研究人员通过实验系统地表征了磁通量子比特在其整个外部磁通范围内的测量诱导态跃迁（MIST）。进一步地，该团队通过数值计算了MIST误差，发现理论结果准确预测了实验中识别出的十一个MIST增强区域。除了向更高磁通能级的跃迁外，研究人员还发现，在某些磁通点上，MIST误差主要由涉及磁通量子比特超电感器中类传输线阵列模式的跃迁主导。理论与实验的高度吻合验证了模型能够准确预测这些系统中MIST的发生，并进一步凸显了阵列模式在磁通量子比特读取中的影响。