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量子纠错码的性能受底层物理噪声的限制。理论研究显示，在执行使用表面码或重复码的量子纠错时，相干噪声与随机噪声会产生不同的影响。该团队利用在transmon量子处理器中实现的比特翻转重复码作为实验平台，研究注入相干错误与随机错误对逻辑性能的影响。研究人员采用可扩展的自由费米子模拟器来模拟实验，并修改了子集采样技术，以高效地对量子电路中的随机噪声进行采样。在实验中，对于距离为3或距离为5的重复码，该团队并未观测到模拟预测的逻辑保真度差异。该团队假设，这种差异可能由量子比特频率的小幅漂移解释，这种漂移引入了相位相干噪声，从而“随机化”了注入的相干错误。该工作有助于增进对相干错误如何影响实验量子纠错的理解。