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量子物理的不可预测性催生了内在随机性。在对抗性场景中，任何额外的自由度都必须归因于一个与测量装置存在关联的窃听者。真正的随机性则由该窃听者正确猜测测量结果的概率来量化，且这一概率需在所有可能的策略下进行优化。极端测量在此具有吸引力，因为它们不允许信息泄露给这样的窃听者。然而，在投影测量之外，一个简单的问题仍然悬而未决：一个给定的极端测量能产生多少内在随机性？在解决该问题的过程中，该团队刻画了任意无偏极端秩一测量作用于任意态所产生的随机性，并在二维情形下明确求解了该问题。此类四输出量子比特测量是层析成像的，因此这些结果也完全适用于依赖源设备的随机性。研究发现，在此类测量中，四面体对称信息完备（SIC）测量的内在随机性最小。该工作还提出了偏斜SIC测量族，并利用它们部分解决了一个开放问题：研究证明，在存在SIC测量的任意维度中，可以设备依赖（或源设备无关）地生成\(2 \log d\)比特的随机性，这是最大随机量。