针对表面码的闭合形式逻辑错误率近似

该团队提出了一种新颖的方法,用于计算表面码中的逻辑错误率,假设物理错误是独立同分布的。他们展示了如何利用该方法分析不同配置下的假设量子计算机,并选择错误率更低的设计方案。目前,这需要针对不同距离和物理错误率进行昂贵的量子解码器经典模拟,或基于最小实验数据进行不精确的外推。而该团队利用问题的对称性,通过其创新软件统计导致逻辑错误的配置。给定物理错误率,他们能以可证明的高精度推导出逻辑错误的概率。此外,该工作还纳入了测量误差分析,以便更全面地比较不同表面码实现方案。
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提交arXiv: 2026-05-04 18:18

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