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研究人员提出了一种通过量子比特的重复拉姆齐干涉测量（RIM）来完整表征导致量子比特退相干的经典随机噪声过程的通用方法。与基于滤波函数的谱分析技术相比，该方法无需复杂的动态解耦脉冲，可直接检测此类噪声过程的任意阶关联函数。研究证明，每次采用短演化时间和恰当控制脉冲的RIM测量均可实现对噪声场的直接采样，且RIM结果的n点关联函数正比于噪声过程的n点关联函数。该工作通过数值模拟展示了该方法对两类典型经典噪声（包括产生高斯噪声的Ornstein-Uhlenbeck过程及产生非高斯噪声的TLF集合体）的表征能力。该方法不受量子比特寿命限制，对量子比特退相干和测量误差具有鲁棒性，从而为跨平台量子比特噪声谱分析提供了普适高效的研究方案。