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该团队研究了一种仅含重置通道的随机酉量子电路，该电路对实际量子设备具有高度可行性。具体而言，该团队通过对比量子比特高维极限（大"d"）下的经典统计图像，探究了"重置诱发"的多体统计物理特性与纠缠相变。在重置诱发相变特性中，量子比特维度参数d具有关键作用——重置通道诱发的相变特性显著依赖于d值。该团队通过针对d=2的高效稳定子电路模拟，数值验证了这一论断。特别值得注意的是，在临界点附近观测到显著涨落现象，表明重置诱发的相变属于连续相变。获得的清晰数据塌缩符合二阶混合相变特征，这一行为与基于大d极限经典统计映射的预期存在显著差异。