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硅量子点中的轨道、自旋和能谷自由度支持多种自旋量子比特操作模式。然而，在大范围参数空间内获取能级谱信息通常具有挑战性。该研究团队展示了一种新型光谱技术，能够将双量子点的能级结构映射为能级失谐、点间隧穿耦合及磁场的函数。在单电子体系中，研究人员直接观测到随着点间隧穿耦合增强，量子点能级从孤立原子态向分子态键合/反键合态的转变过程；同时解析出磁场中基态与激发态能谷的塞曼分裂。在双电子体系中，该工作实现了对失谐相关单重态-三重态能隙的测量。该技术可推广至强自旋轨道耦合材料或邻近效应量子点等更广泛体系，为直接提取各类能隙参数提供了新途径。