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超导和离子阱量子架构是当前量子计算领域的两种常见技术路线，各具特性且存在不同的操作限制。理解和测量这些设备的底层量子特性，对于评估其实际应用成熟度、指导未来发展研究至关重要。基于前期研究（Meirom、Mor、Weinstein arXiv 2505.12441），该研究团队采用了一种适用于两种架构对比的基准测试策略——通过直接在最优子芯片上测量“量子性”。与现有指标不同，该方法采用源自态传输经典极限的严格二元保真度阈值，从而能明确判定指定子区域的量子优势。研究人员将这种质量保证方法应用于两种技术的行业领先平台，通过基于协议的量子优势评估，不仅揭示了被测芯片及其子芯片的优缺点，还为其评估建立了通用标准。通过最终结果中技术差异的抽象化，该工作展示了一种弥合不同量子电路技术鸿沟的基准测试策略，既可实现公平的性能比较，也为评估未来量子优势主张奠定了关键基础。