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表面粗糙度是工程与精密制造领域的一项重要参数。本工作研究了通过被动线性光学方法估算样本均方根粗糙度的问题。研究团队采用量子参数估计技术，确定了粗糙度估算的终极精度极限。特别值得注意的是，该团队证明了对于多个非相干点源的轴向轮廓分布，其一阶矩（平均高度）和标准差（粗糙度）的信息量存在恒定上限。虽然经典成像技术无法达到该理论极限，但基于空间模式解复用的量子启发式成像技术被证明在轴向标准差估算方面具有最优性。结合近期研究的径向轮廓估算方法，这项技术为突破衍射极限的近光滑表面粗糙度测量提供了强有力的解决方案。