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快速且高保真的量子比特测量在量子纠错中起着关键作用。对于超导量子比特，测量通常通过在量子比特色散耦合的读出谐振腔上施加微波驱动来实现。更短的测量时间需要谐振腔内存在更多光子，这最终会导致量子比特出现不期望的测量诱导态跃迁（MIST）。MIST尤其棘手，因为这些跃迁往往使量子比特处于高能态，且其在读出参数空间中的位置会随着量子比特偏移电荷的变化而漂移。在Transmon量子比特中，传统上通过采用极大的量子比特-谐振腔失谐或专用偏置电荷来避免这种漂移。该研究团队另辟蹊径，通过为Transmon添加电感分流器来消除偏移电荷依赖性并稳定MIST。研究人员通过实验在多种不同电感分流Transmon中表征了MIST现象，实验结果与MIST的量子模型及半经典模型相符。这些研究结论可推广至其他电感分流型量子比特体系。