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随着同步辐射和自由电子激光技术的进步，X射线量子光学已成为探索高光子能量下光-物质相互作用的新前沿领域。该领域面临的关键挑战在于通过原子内壳层跃迁构建明确定义的二能级系统，而这通常受到宽自然线宽和局域电子结构效应的制约。本研究旨在探究二硅化钨（WSi2）作为X射线量子光学应用二能级系统的潜力。该工作利用钨L3吸收边附近的高分辨共振非弹性X射线散射（RIXS）技术，首次在实验中分辨出块体WSi2的白线特征，克服了短空穴寿命导致的光谱展宽问题。实验采用von Hamos谱仪在SOLEIL同步辐射光源的GALAXIES光束线完成。结果显示具有固定能量转移的单一共振发射特征，证实了符合二能级系统特性的分立2p-5d跃迁存在。通过高能分辨荧光探测法获取的补充X射线吸收谱，以及基于非共振发射重建法（规避块体WSi2样品自吸收效应）获得的数据，进一步佐证了尖锐白线的识别。这些发现证实了WSi2作为X射线腔量子光学模型体系的可行性，同时确立了RIXS技术在解析精细内壳层结构方面的强大能力。