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表征影响超导量子比特的噪声对提升其性能至关重要。现有噪声传感技术虽以量子比特自身作为探测器，但其短相干时间既限制了灵敏度，也制约了可探测频率范围。本工作展示了一种通过将量子比特频率噪声转化为耦合高品质超导腔中光子损耗的测量方法：研究人员在腔内制备单光子态，通过循环量子比特测量结合后选择技术，将噪声诱导损耗与腔内禀衰减分离。实验在508 MHz频率下测得内禀修饰退相干速率上限为(0.29秒)⁻¹，对应量子比特频率噪声功率谱密度低于5.4×10³ Hz²/Hz。该技术利用毫秒量级腔寿命特性，实现了对传统量子比特谱学无法触及的高频噪声过程的探测，这些噪声可能成为制约量子比特相干性的新因素。