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理解约瑟夫森结的老化行为以及退火对结电阻的影响，对于构建大规模超导量子处理器至关重要。本研究追踪了约瑟夫森结从制备完成到2-3个月内不同储存条件下的老化效应，发现老化曲线符合对数规律——老化幅度主要由制备条件决定，而老化速度取决于储存环境。相较于氮气环境或真空储存的样品，实验室常温储存的结表现出更快的老化速率，且储存条件改变会显著影响老化速度。该团队还比较了氮气环境与常压环境下最高250℃的热退火效果：氮气环境中所有测试温度下电阻均降低；而常压环境下200℃时电阻增加，250℃时反而降低。但两种退火方式均无法将电阻降至初始值以下，这表明电阻调控存在下限。