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该研究团队调查了5量子比特和7量子比特超导处理器中量子比特错误爆发的现象。这些处理器采用相似的设计、制造工艺和封装技术，但使用了不同类型的约瑟夫森结。为区分器件特性与制冷系统依赖性，每种处理器均在两台独立制冷设备中进行了测量。结果表明，错误爆发的持续时间和频率具有器件特异性，但其范围与先前实验数据吻合，且符合电离辐射效应特征。 研究团队特别在采用Dolan结的处理器中观察到两个意外特征：第一，当在检测方案中提高π脉冲频率时，系统恢复平衡所需时间缩短，这种现象可通过准粒子泵浦机制解释；第二，爆发率呈现异常的时间依赖性——在冷却完成数日或数周后会出现激增，随后出现持续至下次热循环前的强烈抑制现象。