对超导量子比特进行的中程测量详细且可解释的表征

线路中测量(MCMs)是量子纠错协议的核心组成部分,这类协议被认为是实现实用级量子计算的关键。MCMs可通过量子仪器(一种量子操作或过程)进行建模,并可通过门集层析技术实现自洽表征。然而实验估计的量子仪器往往难以解释或关联至器件物理机制。该研究团队通过改进误差生成器形式体系(该框架曾用于解析含噪量子门——将其误差过程分解为具有物理意义的“基本误差”之和)来解决这一挑战,并将其应用于MCMs分析。研究团队在超导量子比特器件上部署新分析方法,成功分离并量化了包括振幅衰减、读出误差和非理想坍缩在内的误差机制。研究人员详细考察了这些误差幅度如何随读出脉冲振幅变化,复现了理论预测的色散读出关键特征,并证明仅需少数参数的简化模型即可精要描述这些特征。

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提交arXiv: 2026-02-03 19:00

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