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最新研究表明，采用基于纠错周期中间状态的策略能有效处理制造缺陷。该研究团队在原始方案基础上提出了两项改进：首先，量化了更完备规范算子组的选择对标准方形网格表面码的影响（该算子组最初为六边形网格表面码设计），同时提出了一种新方法来剔除实际未使用的量子比特；其次，利用LUCI框架作为中间表示层的表达优势，通过整数线性规划从大量有效LUCI电路中筛选高性能物理电路。实验表明，在采用SI1000噪声模型（噪声水平0.1%）的条件下，对于量子比特与耦合器失效率为1%（3%）的d=11表面码，经过4d轮症状提取后，这些优化方案相比原始方案实现了14.5%（23.6%）的整体性能提升。